SN74ABTH18646APM

codice articolo del costruttore:	SN74ABTH18646APM
Produttore:	Texas Instruments
Parte della descrizione:	IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Schede tecniche:	SN74ABTH18646APM Schede tecniche
Stato senza piombo/Stato RoHS:	Senza piombo / Conforme a RoHS
Condizioni di magazzino:	Disponibile
Nave da:	Hong Kong
Modo di spedizione:	DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS

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package

Specifiche

Tipo	Descrizione
Serie	74ABTH
Pacchetto	Tray
Stato della parte	Active
Tipo di logica	Scan Test Device With Transceivers And Registers
Tensione di alimentazione	4.5V ~ 5.5V
Numero di bit	18
temperatura di esercizio	-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggio	Surface Mount
Pacchetto / caso	64-LQFP
Pacchetto dispositivo fornitore	64-LQFP (10x10)

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